主/相控-虚拟下级SST控制器硬件在环测试方案 主/相控-虚拟下级SST控制器硬件在环测试方案
算法预研原型SST控制器硬件在环测试方案

算法研究与前期验证:可在标准RCP平台上快速实现“想法到模型”的验证。 适用于技术预研、算法可行性分析与前期性能优化。
1台主仿真器以50μs步长仿真前级拓扑,1台从仿真器以100ns步长仿真后级高频DC-DC变换器,两台仿真器通过光纤进行数据交互,并由时钟同步线确保严格同步。采用远宽专用SST原型控制器MT 1090,用户只需在Simulink环境中完成控制算法建模,即可一键编译下载至MT 1090,使其成为承载用户算法的实体控制器。

算法预研原型SST控制器硬件在环测试方案
主/相控-虚拟下级SST控制器硬件在环测试方案

主控制器独立测试:高效验证系统级能量管理、协调控制等上层策略,无需等待或依赖实际的繁多的子控制器硬件。
由1台主仿真器以 50μs步长实时仿真前级拓扑,1台从仿真器以100ns步长仿真后级高频DC-DC变换器。1台仿真器通过光纤进行数据交互,并由时钟同步线确保严格同步,构成一个包含完整被控对象及虚拟下级控制逻辑的闭环测试平台。

主/相控-虚拟下级SST控制器硬件在环测试方案
光纤适配集成SST控制器硬件在环测试方案

全控制器硬件测试(便捷优先): 在测试包含主控、相控、子控在内完整控制器硬件时,优先追求接线便捷性与高性价比。适用于实验室快速迭代、多轮回归测试等场景。
由1台主仿真器以50μs 步长实时仿真前级拓扑,同时3台从仿真器以100ns 的极小步长分别精确仿真各相后级高频DC-DC变换器;4台仿真器之间通过光纤进行实时数据交互,并采用时钟同步线确保严格同步,形成一个高精度、统一的虚拟被控对象。

光纤适配集成SST控制器硬件在环测试方案
物理IO全保真SST控制器硬件在环测试方案

全控制器硬件测试(保真优先): 当测试包含主控、相控、子控在内的完整控制器硬件,必须100%还原真实电气接口与信号特性时采用。适用于最终定型测试、一致性认证及故障复现等高保真要求场景。
由1台主仿真器以50μs步长实时仿真前级拓扑,同时3台从仿真器以100ns的极小步长分别精确仿真各相后级高频DC-DC变换器;4台仿真器之间通过光纤进行实时数据交互,并采用时钟同步线确保严格同步,形成一个高精度、统一的虚拟被控对象。

物理IO全保真SST控制器硬件在环测试方案
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